Use este identificador para citar ou linkar para este item: http://ri.ufmt.br/handle/1/5650
Tipo documento: Dissertação
Título: Estudo de degradação de filmes finos de haletos de perovskitas orgânico-inorgânicos sobre diferentes substratos
Autor(es): Felicio, Guilherme Aparecido da Silva
Orientador(a): Terézio, Eralci Moreira
Membro da Banca: Terézio, Eralci Moreira
Membro da Banca: Lima, Erika Nascimento
Membro da Banca: Nobuyasu Junior, Roberto Shigueru
Resumo : Neste trabalho, filmes finos de perovskita de haletos de chumbo multicátions orgânico inorgânico (HOIP) foram estudados a fim de entender como o processo de degradação afeta as propriedades optoeletrônicas dos filmes em diferentes substratos. Para caracte rizar os filmes, técnicas tradicionais de espectroscopia foram utilizadas na caracterização de materiais com propriedades ópticas, como absorção UV-Vis e Fotoluminescência (PL), e a técnica de Difração de Raios X (DRX) foi utilizada para caracterizar as estruturas dos filmes . O uso dessas técnicas permitiu uma investigação sistemática das propriedades ópticas dos filmes e o monitoramento de como elas mudam à medida que o material se degrada devido à exposição ao calor e à umidade. Para estudos do processo de degrada- ção, o protocolo de degradação foi realizado em um período de 30 dias, em que o dia 1 foi o dia específico em que os filmes foram sintetizados e durante os primeiros 5 dias foram feitas as medidas de caracterização óptica, uma vez por dia no mesmo horário, e nos 30 dias restantes, as medidas ópticas foram feitas novamente nos dias 10, 20 e 30. Quanto à medida de caracterização estrutural, foi sintetizado um segundo lote de filmes, no qual as medidas foram realizadas nos dias 1, 5, 10, 20 e 30. Foi possível observa a degradação dos filmes de perovskita com o passar dos dias seja medida pelo DRX e comparar os resultados de DRX com os resultados de UV-vis e PL para verificar como as propriedades ópticas foram alteradas devido ao processo de degradação dos filmes.
Resumo em lingua estrangeira: In this work, perovskite thin films of organic-inorganic multication lead halides (HOIP) were studied in order to understand how the degradation process affects the optoelectro nic properties of the films on different substrates. To characterize the films, traditional spectroscopy techniques were used to characterize materials with optical properties, such as UV-Vis absorption and Photoluminescence (PL), and the X-Ray Diffraction (XRD) technique was used to characterize the structures of the films . The use of these tech niques has allowed a systematic investigation of the optical properties of films and the monitoring of how they change as the material degrades due to exposure to heat and humidity. For studies of the degradation process, the degradation protocol was carried out over a period of 30 days, in which day 1 was the specific day in which the films were synthesized and during the first 5 days the optical characterization measurements were taken, a once a day at the same time, and in the remaining 30 days, optical measurements were taken again on days 10, 20 and 30. As for the structural characterization measure, a second batch of films was synthesized, in which measurements were taken on days 1, 5, 10, 20 and 30. It was possible to observe the degradation of the perovskite films over the days to be measured by XRD and to compare the XRD results with the UV-vis and PL results to verify how the optical properties were altered due to the degradation process of the films.
Palavra-chave: Perovskitas
Filmes finos
Degradação
Palavra-chave em lingua estrangeira: Perovskites
Thin films
Degradation
CNPq: CNPQ::CIENCIAS EXATAS E DA TERRA::FISICA
Idioma: por
País: Brasil
Instituição: Universidade Federal de Mato Grosso
Sigla da instituição: UFMT CUC - Cuiabá
Departamento: Instituto de Física (IF)
Programa: Programa de Pós-Graduação em Física
Referência: FELICIO, Guilherme Aparecido da Silva. Estudo de degradação de filmes finos de haletos de perovskitas orgânico-inorgânicos sobre diferentes substratos. 2023. 61 f. Dissertação (Mestrado em Física) - Universidade Federal de Mato Grosso, Instituto de Física, Cuiabá, 2023.
Tipo de acesso: Acesso Aberto
URI: http://ri.ufmt.br/handle/1/5650
Data defesa documento: 2-Mar-2023
Aparece na(s) coleção(ções):CUC - IF - PPGF - Dissertações de mestrado

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